一、 導通阻抗

將某一條連接線切到定電流源遠流(Ic)，另外一端接地(GND)，端讀取測試電壓(Ｖtest)。

二、 絕緣阻抗

將某一條連接線切到電壓原(ＶH)，其它的線全部接在一起，切到Ｒs端讀取測試電壓Ｖtest。

將每一條線皆經(jīng)由上述原理測試，直到所有的線都測完為止，若有錯誤則顯示出來。

DC電壓越高，絕緣電阻越高。

三、 短路端點判斷

當有短路現(xiàn)象發(fā)生時(如圖所示)，則再做四次導通阻抗測量。

(1)         A01切到定電流源，其它點接地，測量A01導通量。

(2)         A02切到定電流源，其它點接地，測量A02導通量。

(3)         B01切到定電流源，其它點接地，測量B01導通量。

(4)         B02切到定電流源，其它點接地，測量B021導通量。

如圖所示，A01及A02導通量最好，因此A01及A02短路。

 四、    斷路端點判斷

當有斷路現(xiàn)象發(fā)生時(如圖所示)，則再做二次天線噪聲量測量。

（1）A01無天線效應，所以雜訊量小。

（2）B01有天線效應，所以雜訊量大；因此A01為斷路。

 五、        測試模式說明：

1. 模式一：奇對偶：(以8回路為例，以下類同)

指的是非地線對指定的地線之間做絕緣測試，其優(yōu)點是測試速度快，缺點是非地線與非地線之間沒有絕緣測試，一般情況下不采用此種模式。

 2. 模式二：所有對地(如選擇A8點為地)

指的是非地線對指定的地線之間做絕緣測試，其優(yōu)點是測試速度快，缺點是非地線與非地線之間沒有絕緣測試，一般情況下不采用此種模式。

3.模式三：二分快速

其測試方法為每次測試都把線材分成兩組分別加正負電壓來做絕緣測試，它測量次數(shù)與設定的測試點數(shù)有關，如圖，設定為2點只做1次測試，設定4點時測試2次。

  4.     模式四：一對其它

測試方法是線材的一個點對其它全部的點做絕緣測試，線材的每一個點都會一一做這樣的測試，其優(yōu)點是儀器能查出第一點的絕緣及解壓值且可以全部顯示，精準度較高，缺點是測試速度較慢，操作時建議把模式三及此模式同時打開。

六、       測試過程中常見問題：

1.      斷路：

原因：A.治具  B.線材  C.儀器

2.      導通不良：

原因：

A.     治具接觸電阻大

B.     治具與線材的接觸電阻

C.     儀器內(nèi)阻(歸零解決)

3.      絕緣不良：

原因：

A.     治具較臟，濕度大

B.     線材材料與制作工藝問題

C.     儀器Relay板較臟，可作空測或清潔工作

 七、儀器使用注意事項

1. 轉(zhuǎn)接線愈短愈好，其影響導通、單邊靈敏度、絕緣度

2.轉(zhuǎn)接頭要經(jīng)常更換，其影響導通、瞬斷

3. 治具及轉(zhuǎn)接頭隨時保持清潔，影響絕緣

八、CT-8681|CT-8683|CT-8685|CT-8687|CT-8691不良原因分析

　　1.OPEN       A01：B01▼           開路（箭頭指向開路點在B端）

　　2.SHORT      A01-B01              短路

　　3.M.W        A01×B01             錯位（注）

　　4.×COND    A01*B01 3.1?         導通過大(超過設定值)

　　5.×COND    A01*B01 HILIMIT      導通超大(超過機器值)

　　6.OPEN      A01： B01 (INTERM)    瞬間開路不良

　　7.SHORT     A01：B01 (INTERM)    瞬間短路不良

　　8.×INSUL   ( M U S)   LOW LIMIT     絕緣不良

　　9.×INSUL   ( M U S)  ARCING        DC高壓不良

　　10.×HIPOT   ( M U X)  〉0.50MA        漏電流不良

　　11.×HIPOT   ( M U X)  ARCING        AC高壓不良

注：第3項不可分辯錯位（誤配）端點，即此顯示不表示在A01、B01點誤配。如果您在這方面有任何疑問可以與我們聯(lián)系，我們會給您最專業(yè)的解釋！