產(chǎn)品展示

扶風(fēng)YC-609蘋(píng)果線材測(cè)試機(jī)

蘋(píng)果數(shù)據(jù)線雙面測(cè)試機(jī)可以測(cè)試山寨、原裝蘋(píng)果5 6 7 8 X 11線材的電壓、電流、序列號(hào)等；也可以測(cè)試數(shù)據(jù)頭，原裝頭；可以測(cè)試假充、單面通、跳窗和彈窗；可以測(cè)蘋(píng)果安卓二合一的線材；可以測(cè)蘋(píng)果對(duì)蘋(píng)果的數(shù)據(jù)線；也可以測(cè)兩邊都是山寨頭的線（做一施二先做兩頭再對(duì)截提高效率），還可以測(cè)一施二，一施三的線，只需要插一次雙面同時(shí)測(cè)試，不需要反過(guò)來(lái)再插一次的

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史上強(qiáng)大、準(zhǔn)確的蘋(píng)果數(shù)據(jù)線測(cè)試儀，業(yè)界權(quán)威，雙面測(cè)試,單頭測(cè)試,0-3A 電流實(shí)測(cè),D+D-漏電阻檢測(cè)，支持Ｃ10、C48、C52、E75、C68、蘋(píng)果安卓2合1的線、蘋(píng)果安卓1拖2線、１拖３線.

主機(jī)YC-609

【簡(jiǎn)介】

手機(jī)已成為最為流行的電子產(chǎn)品，各種外圍產(chǎn)品也幸運(yùn)而生，本公司立志為廣大外設(shè)廠家服務(wù)，適時(shí)推出相應(yīng)的檢測(cè)設(shè)備，為您提高生產(chǎn)效率，為您的品質(zhì)保駕護(hù)航。本產(chǎn)品為一款多功能的手機(jī)充電器檢測(cè)儀器，適用于研發(fā)和批量生產(chǎn)環(huán)節(jié)。

【功能特點(diǎn)】

※ 采用32位ARM高速處理器設(shè)計(jì)。

※ 支持iPhone　X,iPhone8,iPhone7,iPhone6,iPhone5,iPad4,iPad mini,iPod nano6數(shù)據(jù)線、充電線、單頭測(cè)試。

※ 支持iOS6、iOS7、iOS8、iOS9、iOS10、iOS1１操作系統(tǒng),支持MFI認(rèn)證原裝數(shù)據(jù)線和山寨高仿數(shù)據(jù)線、C10B、C48、C52、E75、C68A、C68E、蘋(píng)果安卓2合1方案、蘋(píng)果安卓1施2方案、蘋(píng)果安卓Type-C 1拖3方案等。

※ 雙面測(cè)試，插一次即可全部測(cè)完，提高效率。

※ 負(fù)載電流可以設(shè)定0-3A，可以設(shè)為3A實(shí)測(cè)iPad數(shù)據(jù)線，充分保證線材指標(biāo)。

※ 準(zhǔn)確測(cè)出D+、D-電阻，可以檢測(cè)出D+、D-內(nèi)置的匹配電阻大小并作出判斷。

※ 可測(cè)出D+、D-漏電阻，并根據(jù)設(shè)定范圍判定結(jié)果，漏電阻過(guò)小會(huì)影響數(shù)據(jù)通信和充電速度。

※ 由于USB座使用率很高，容易損壞，所以USB座采用分體設(shè)計(jì)，方便更換。

※ 支持Type-C轉(zhuǎn)Lightning數(shù)據(jù)線的測(cè)試（用戶需要另購(gòu)買(mǎi)專(zhuān)用測(cè)試板,普通方案和快充方案都支持）。

※ 支持C68A的測(cè)試（用戶需要另購(gòu)測(cè)試板）,C68A用于蘋(píng)果外設(shè)如鍵盤(pán)、U盤(pán)等。

※ 可測(cè)試出具體故障點(diǎn)，以便技術(shù)人員對(duì)線進(jìn)行檢修。

※ 各種保護(hù)措施避免儀器使用過(guò)程中受到損壞，防靜電保護(hù)，防短路保護(hù)，直接短路USB電源也不會(huì)損壞。

※ 插入被測(cè)產(chǎn)品自動(dòng)開(kāi)始測(cè)試。

※ LCD中文顯示屏。

※ 同時(shí)有聲音和LED指示測(cè)試結(jié)果。

※ 設(shè)置的測(cè)試參可掉電保存。

※ 可以連接電腦，有PC軟件，實(shí)現(xiàn)更多功能，也可單獨(dú)使用。

※ 通過(guò)PC軟件對(duì)蘋(píng)果協(xié)議數(shù)據(jù)抓取，可以對(duì)數(shù)據(jù)保存導(dǎo)入導(dǎo)出，測(cè)試數(shù)據(jù)備份、可導(dǎo)出為Excel表格。

※ 可以顯示山寨原裝方案，杜絕高仿充當(dāng)原裝。

【YC-609 支持產(chǎn)品列表】

數(shù)據(jù)線類(lèi)：

1、原裝、山寨E75、C48 等數(shù)據(jù)線。

2、蘋(píng)果安卓二合一數(shù)據(jù)線（需要購(gòu)買(mǎi)二合一測(cè)試板）。

3、蘋(píng)果安卓一拖二數(shù)據(jù)線（需要購(gòu)買(mǎi)二合一測(cè)試板）。

4、安卓數(shù)據(jù)線（需要購(gòu)買(mǎi)二合一測(cè)試板）。

5、 C to Lightning 數(shù)據(jù)線（需要購(gòu)買(mǎi)相應(yīng)測(cè)試板）。

6、 C68A 、C68E 4 線、5 線裸線（需要購(gòu)買(mǎi)相應(yīng)測(cè)試板）。

7、 C68A 、C68E 雙頭線（需要購(gòu)買(mǎi)相應(yīng)測(cè)試板）。

8、山寨雙頭數(shù)據(jù)線（需要購(gòu)買(mǎi)雙頭測(cè)試板）。

充電線類(lèi)：

1、原裝、山寨E75、C48 等充電線。

2、蘋(píng)果安卓二合一充電線（需要購(gòu)買(mǎi)二合一測(cè)試板）。

3、蘋(píng)果安卓一拖二充電線（需要購(gòu)買(mǎi)二合一測(cè)試板）。

4、安卓充電線（需要購(gòu)買(mǎi)二合一測(cè)試板）。

單頭類(lèi)：

1、蘋(píng)果、山寨單頭E75、C48、C68，（檢測(cè)部分項(xiàng)目）。

2、蘋(píng)果、山寨單頭E75、C48、C68，點(diǎn)測(cè)法（更多功能）。

3、蘋(píng)果、山寨單頭E75、C48、C68，測(cè)試架法（全功能測(cè)試，需要定做測(cè)試架）。

4、 C100、C101（僅支持讀碼激光打印、打條碼）

【檢測(cè)項(xiàng)目】

檢測(cè)項(xiàng)目	檢測(cè)內(nèi)容	蘋(píng)果數(shù)據(jù)線	蘋(píng)果充線	蘋(píng)果數(shù)據(jù)頭	蘋(píng)果充電頭
空載電壓	輸出電壓是否達(dá)標(biāo)	√	√	√
空載電流	Vbus 線是否有漏電	√	√
輕負(fù)載電壓	輸出電壓是否達(dá)標(biāo)	√	√	√	√
重負(fù)載電壓	輸出電壓是否達(dá)標(biāo)	√	√	√	√
過(guò)壓保護(hù)	是否有過(guò)壓保護(hù)及是否達(dá)標(biāo)	√	√	√	√
最大電流	線材最大通過(guò)電流	√	√	√	√
D+	連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻	√	√	√	√
D-	連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻	√	√	√	√
屏蔽線	懸空、接VCC、接GND、直通	√	√	√	√
認(rèn)證芯片	通信、認(rèn)證、版本、序列號(hào)	√	√	√	√
MOS管	是否可正常控制、開(kāi)路、短路	√	√
待機(jī)空載電壓	待機(jī)電壓是否正常	√	√	√	√
待機(jī)帶載電壓	待機(jī)載電壓是否正常	√	√	√	√
IC方案	檢測(cè)蘋(píng)果頭中所用的芯片方案	√	√	√	√

【按鍵定義】

OK：按一下測(cè)試一次。可以在軟件里設(shè)置為自動(dòng)測(cè)試，就是插入時(shí)自動(dòng)測(cè)試一次，如果需要再測(cè)，按“OK”鍵鍵 2 秒可以連續(xù)測(cè)試。

SET：選擇測(cè)試文件，用DOWN、UP鍵選擇。

DOWN：向下查詢鍵，當(dāng)有多條錯(cuò)誤信息時(shí)，按此鍵查看，在設(shè)置模式下，用于選擇測(cè)試文件。

UP：向上查詢鍵，當(dāng)有多條錯(cuò)誤信息時(shí)，按此鍵查看，在設(shè)置模式下，用于選擇測(cè)試文件。

最大電流：對(duì)于數(shù)據(jù)線/充電線，可以設(shè)定供電電壓為5.2V，當(dāng)數(shù)據(jù)線插頭端的電壓降到4.5V（可設(shè)置）時(shí)的電流，定義為數(shù)據(jù)線能過(guò)的最大電流。一般選擇指定電壓點(diǎn)來(lái)測(cè)最大電流，因?yàn)樽畲箅娏魇菕呙铚y(cè)試，如果測(cè)試一般測(cè)試時(shí)間會(huì)較長(zhǎng)，請(qǐng)根據(jù)實(shí)際需要選擇要不要測(cè)試，一般只是試驗(yàn)性測(cè)試。

D+、D-：為USB通信信號(hào)線，對(duì)于數(shù)據(jù)線，是從蘋(píng)果頭直接連到UAB-A公頭的，與其它電路絕緣，但實(shí)際產(chǎn)品由于工藝原因，可能與其它電路有漏電，并不完全絕緣，我們稱為漏電阻，這個(gè)漏電阻過(guò)小可能會(huì)影響USB通信，我們的儀器是可以測(cè)出漏電阻值的，并根據(jù)參考值來(lái)判定是否合格。

另外，D+、D-不同接法還用于識(shí)別充電器的額定電流，可以參考相關(guān)資料，我們的儀器支持檢測(cè)D+、D-的各種接法。

主端屏蔽線：是指數(shù)據(jù)線 USB-A 公頭的鐵殼連接方式，一般懸空或接 GND。

從端屏蔽線：是指數(shù)據(jù)線插手機(jī)一頭的鐵殼連接方式，蘋(píng)果原裝線接 GND，山寨線懸空或接 GND，除此之外與其它線短路都是錯(cuò)誤的

認(rèn)證芯片：是指儀器與蘋(píng)果數(shù)據(jù)線、充電器中的認(rèn)證芯片通信是否正常,普通產(chǎn)品無(wú)此項(xiàng)測(cè)試。

蘋(píng)果公頭每一面有 2 種接線方式，如下圖，根據(jù)不同的接線方式，兩面可以有 AA，BB，AB（BA）幾種組合。

主端屏蔽線：是指數(shù)據(jù)線 USB-A 公頭的鐵殼連接方式，一般懸空或接 GND。

從端屏蔽線：是指數(shù)據(jù)線插手機(jī)一頭的鐵殼連接方式，蘋(píng)果原裝線接 GND，山寨線懸空或接 GND，除此之外與其它線短路都是錯(cuò)誤的

認(rèn)證芯片：是指儀器與蘋(píng)果數(shù)據(jù)線、充電器中的認(rèn)證芯片通信是否正常,普通產(chǎn)品無(wú)此項(xiàng)測(cè)試。

蘋(píng)果公頭每一面有 2 種接線方式，如下圖，根據(jù)不同的接線方式，兩面可以有 AA，BB，AB（BA）幾種組合。

檢測(cè)空腳：從上圖可以看出，不管接線位置為 A 或 B，都有 3 個(gè)腳是空腳，這 3 個(gè)腳是 DQ、D+、D-，在生產(chǎn)

過(guò)程中，3 個(gè)空腳可能因?yàn)楣に嚨膯?wèn)題造成短路，但在手機(jī)上是可以正常工作的，當(dāng)然我們?cè)跍y(cè)試文件里提

供了檢測(cè)或不檢測(cè)空腳的選項(xiàng)，大家酌情使用。

MOS管：蘋(píng)果充電器、數(shù)據(jù)線內(nèi)置有認(rèn)證芯片和MOS管，此項(xiàng)是指儀器是否能正常控制MOS管開(kāi)和關(guān)，參考下圖，非蘋(píng)果產(chǎn)品無(wú)此項(xiàng)測(cè)試。

待機(jī)空載：待機(jī)空載電壓是指在MOS管關(guān)閉后，在輸出端接上1K電阻負(fù)載測(cè)到的電壓，這個(gè)電壓不能過(guò)低，否則手機(jī)認(rèn)為沒(méi)有待機(jī)電壓而提示不匹配或者手機(jī)完全沒(méi)電的情況下不能充電，非蘋(píng)果產(chǎn)品無(wú)此項(xiàng)測(cè)試。

待機(jī)帶載：待機(jī)帶載電壓是指在MOS管關(guān)閉后，在輸出端接上一定的負(fù)載，這個(gè)電壓不能過(guò)高，否則手機(jī)認(rèn)為MOS管無(wú)法關(guān)閉而提示不匹配，非蘋(píng)果產(chǎn)品無(wú)此項(xiàng)測(cè)試。

比較老的儀器，采用“測(cè)試方法1”進(jìn)行測(cè)試，結(jié)果誤差比較大，請(qǐng)謹(jǐn)慎使用此項(xiàng)檢測(cè)，新的儀器我們采用新的方法，顯示“測(cè)試方法2”，結(jié)果準(zhǔn)確，蘋(píng)果原裝線此電壓為2.0-2.3V左右，如果超出這個(gè)范圍應(yīng)該是損壞或山寨線。

Type-C電阻：用于測(cè)試Type-C轉(zhuǎn)Lightning數(shù)據(jù)線里CC線上的下拉電阻Rd（5.1K ± 10%）。

IC 方案：本儀器能夠比市面上其它品牌儀器更準(zhǔn)確識(shí)出數(shù)據(jù)線所使用的芯片方案，當(dāng)然并不是 100%準(zhǔn)確，僅

供參考，還可以根據(jù)過(guò)壓保護(hù)和待機(jī)帶載電壓進(jìn)一步人工識(shí)別芯片方案

免測(cè)：說(shuō)明該項(xiàng)目不需要測(cè)試，不影響測(cè)試結(jié)果。

未測(cè)：說(shuō)明該項(xiàng)目需要測(cè)試，但未能完成，測(cè)試失敗。

另外，D+、D-不同接法還用于識(shí)別充電器的額定電流，可以參考相關(guān)資料，我們的儀器支持檢測(cè)D+、D-的各種接法。

【售前/售后/技術(shù)支持聯(lián)系信息】

深圳市益測(cè)電子科技有限公司

SHENZHEN YICE ELECTRONICS AND TECHNOLOGY CO., LTD

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