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產(chǎn)品展示

鐵山Y(jié)C-659M 線材測試儀

史上最強大、最準(zhǔn)確的蘋果數(shù)據(jù)線測試儀，業(yè)界權(quán)威，雙面測試,單頭測試,0-3A電流實測,D+D-漏電阻檢測，靜態(tài)電流、限流、短路電流、短路保護、過壓保護，支持C48、E75、C68A、C52、C89、C91、C94、蘋果安卓3合1線、蘋果安卓1拖3線、 C-C2.0線、帶HUB數(shù)據(jù)線。

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USB數(shù)據(jù)線測試儀YC-659M使用說明書

支持USB數(shù)據(jù)通信測試、C-C2.0數(shù)據(jù)線

主機YC-659M

【符號說明】

1、A = USB-A, C = Type-C, L = Lightning，M = Micro

2、A-L：USB-A公轉(zhuǎn)Lightning數(shù)據(jù)線。

3、A-C：USB-A公轉(zhuǎn)Type-C數(shù)據(jù)線。

4、A-M：USB-A公轉(zhuǎn)Micro數(shù)據(jù)線。

5、C-C：Type-C轉(zhuǎn)Type-C數(shù)據(jù)線。

【YC-659M與YC-629M的區(qū)別】

YC-659M是YC-629M的升級版，在YC-629M的基礎(chǔ)上做了以下幾項重要改進：

1、采用全新的CPU重新設(shè)計大部分軟硬件。

2、支持USB數(shù)據(jù)通信測試，支持高速、全速USB，支持帶HUB數(shù)據(jù)線。NEW

3、支持連接真機測試。NEW

3、支持C-C 2.0帶E-Marker的數(shù)據(jù)線。NEW

4、Type-C口支持PD協(xié)議輸出。NEW

5、測試性能、測試精度都得到提高。

【簡介】

手機已成為最為流行的電子產(chǎn)品，各種外圍產(chǎn)品也幸運而生，本公司立志為廣大外設(shè)廠家服務(wù)，適時推出相應(yīng)的檢測設(shè)備，為您提高生產(chǎn)效率，為您的品質(zhì)保駕護航。本產(chǎn)品為一款多功能的數(shù)據(jù)線測試儀器，適用于研發(fā)和批量生產(chǎn)環(huán)節(jié)。

【功能特點】

※ 采用32位高速處理器設(shè)計，運行速度達到200多MHz。

※ 支持USB數(shù)據(jù)通信測試，支持高速、全速USB，支持HUB，用于測數(shù)據(jù)線的兼容性。NEW

※ 支持iPhoneX、iPhone8、iPhone7、iPhone6、iPhone5、iPad4、iPad mini、iPod nano6數(shù)據(jù)線、充電線、單頭測試。

※ 支持iOS6-iOS14操作系統(tǒng),支持MFI認(rèn)證原裝數(shù)據(jù)線和山寨高仿數(shù)據(jù)線、C10B、E75、C48，C68A、C68E、C52、C89、C91、C94快充線、蘋果安卓1拖3線等。

※ Lightning雙面測試，插一次即可全部測完，提高效率。

※ 支持單獨的A-M、A-C線，支持華為雙電阻。

※ 支持帶HUB的數(shù)據(jù)線，帶HUB的1拖3數(shù)據(jù)線。NEW

※ 支持OPPO數(shù)據(jù)線（A-M，A-C），全兼容線，支持原裝、高仿方案識別。

※ 支持C-C 2.0帶E-Marker的數(shù)據(jù)線，支持部分E-Marker芯片型號識別（VL150、VL151、VL152、VL152C、RT1710、FL7001、FL7031、HUSB330/331/332、CHC5388、CYPD2103、CYPD2704）。NEW

※ 支持E-Marker芯片讀碼。

※ 支持真機測試，類似電腦作為主機連接手機測試充電和數(shù)據(jù)通信是否正常。支持PD輸出5V或9V用于測試C94連接手機是否觸發(fā)9V充電。NEW

※ 支持移動電源測試，Lightning、Micro、Type-C輸出（不支持PD協(xié)議）。

※ 支持搖擺測試。

※ 負(fù)載電流可以設(shè)定0-3A，可以設(shè)為2.4A實測iPad數(shù)據(jù)線，充分保證線材指標(biāo)。

※ 準(zhǔn)確測出D+、D-電阻，可以檢測出D+、D-內(nèi)置的匹配電阻大小并作出判斷。

※ 可測出D+、D-漏電阻，并根據(jù)設(shè)定范圍判定結(jié)果，漏電阻過小會影響數(shù)據(jù)通信和充電速度。

※ 可以測出MOS管是否正常開通關(guān)閉，有無輸出短保護功能。

※ 由于iOS9和iOS10認(rèn)證流程有區(qū)別，本儀器可以設(shè)定iOS9或iOS10后流程進行測試。

※ 由于USB座使用率很高，容易損壞，所以USB座采用分體設(shè)計，方便更換。

※ 支持C68A、C78、C79的測試（用戶需要自己改裝測試板）,C68A用于蘋果外設(shè)如鍵盤、U盤等。

※ 可測試出具體故障點，以便技術(shù)人員對線進行檢修。

※ 各種保護措施避免儀器使用過程中受到損壞，防靜電保護，防短路保護，直接短路USB電源也不會損壞。

※ 插入被測產(chǎn)品自動開始測試。

※ 測試速度快，效率高。

※ 良品、不良品計數(shù)。

※ 內(nèi)置雙TF卡（2 X 4GB以上），用于保存數(shù)據(jù)和測試用。

※ 5寸IPS高清觸模電容屏。

※ 同時有聲音測試結(jié)果。

※ 設(shè)置的測試文件可掉電保存。

※ 可以連接電腦，有PC軟件，實現(xiàn)更多功能，也可單獨使用。

※ 通過PC軟件對蘋果協(xié)議數(shù)據(jù)抓取。

※ 支持中文、繁體、英文。

※ 可以在線升級，使儀器隨時擁最新的功能，如果儀器有問題，可使用在線升級經(jīng)松解決，不必返廠。

【YC-659M支持產(chǎn)品列表】

數(shù)據(jù)線類：

1、原裝、山寨E75、C48、C89、C91、C94等數(shù)據(jù)線。

2、支持蘋果、安卓1拖3數(shù)據(jù)線，直連或帶HUB都可以。

3、單獨的安卓A-Micro數(shù)據(jù)線，單獨的安卓A-C 2.0數(shù)據(jù)線。

4、 C-C 2.0帶E-Marker數(shù)據(jù)線。

5、 C68A 、C68E 、C78、C79，4線、5線裸線（需要購買相應(yīng)測試板或自行改裝）。

6、 C68A 、C68E雙頭線（需要購買相應(yīng)測試板或自行改裝）。

7、山寨雙頭數(shù)據(jù)線（需要購買相應(yīng)測試板或自行改裝）。

8、華為A-C雙電阻5A線。

9、 OPPO數(shù)據(jù)線（A-M，A-C），原裝或高仿方案。

10、 OPPO華為全兼容線。

11、 8848數(shù)據(jù)線（線上VBUS有開關(guān)）。

充電線類：

1、原裝、山寨E75、C48、C52、C91等充電線。

2、蘋果安卓2合1充電線。

3、蘋果安卓1拖2充電線。

4、安卓充電線。

5、支持特殊的移動電源用充電線的測試。

單頭類：

1、蘋果、山寨單頭E75、C48、C68、C52、C89、C91、C94，（檢測部分項目）。

2、蘋果、山寨單頭E75、C48、C68、C52、C89、C91、C94，點測法（更多功能）。

3、蘋果、山寨單頭E75、C48、C68、C52、C89、C91、C94，測試架法（全功能測試，需要定做測試架）。

4、 C100、C101（僅支持讀碼激光打印、打條碼）

【檢測項目】

檢測項目	檢測內(nèi)容	蘋果數(shù)據(jù)線C48、E75、C89	蘋果快充數(shù)據(jù)線C94	A-M數(shù)據(jù)線含OPPO	A-C數(shù)據(jù)線含OPPO	C-C 2.0帶E-Marker	不良原因
空載電壓	輸出電壓是否達標(biāo)	√	√	√	√	√	電源線開路或Lightning頭損壞
靜態(tài)電流	蘋果頭、數(shù)據(jù)線本身耗電	√	√	√	√	√	電源線短路、漏電或MOS管壞
輕負(fù)載電壓	輸出電壓是否合格	√	√	√	√	√	電源線開路或Lightning頭損壞
重負(fù)載電壓	輸出電壓是否合格，以檢測出數(shù)據(jù)線內(nèi)阻、壓降是否達標(biāo)	√	√	√	√	√	電源線開路或Lightning頭損壞，線材或插頭內(nèi)阻過大
過壓保護	當(dāng)線上電壓過高時，蘋果頭是否會關(guān)閉輸出，原裝線過壓保護一般是6.35V左右	√	√				MOS管損壞、漏電，非原裝MOS管
最大電流	指定壓降條件下線材能過的最大電流	√	√	√	√	√	線材或插頭內(nèi)阻過大
C68-AP線	C68、C78的3.3V輸出線是否正常	√					AP線開路、或和其它線短路
Gnd線	單獨檢測地線連接是否正常	√	√	√	√	√	地線開路
D+	連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻	√	√	√	√	√	D+線開路、短路、漏電，虛焊內(nèi)阻過大
D-	連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻	√	√	√	√	√	D-線開路、短路、漏電，虛焊內(nèi)阻過大
USB數(shù)據(jù)通信	全速、高速USB2.0傳輸	√	√	√	√	√	D+D-問題，HUB芯片不良，兼容性問題
主端D+D-電壓	一些特殊數(shù)據(jù)線需要單獨檢測主端D+D-	√		√	√		相關(guān)線開路短路、電阻不良
主端鐵殼	懸空、接VCC、接GND、直通	√	√	√	√	√	連接不正確
從端鐵殼	懸空、接VCC、接GND、直通	√	√	√	√	√	連接不正確
芯片協(xié)議DQ	通信、普通認(rèn)證、動態(tài)認(rèn)證、版本、序列號	√	√				主控芯片、動態(tài)芯片損壞、虛焊、未寫碼
VOOC協(xié)議	檢測VOOC認(rèn)證			√	√		認(rèn)證芯片損壞、虛焊
DQ腳電平	IC協(xié)議通信腳的高低電平是否符合要求	√	√				主控芯片不良，部分損壞
Hi5cc	檢測Hi5cc電流是否正常	√	√				主控芯片不良，部分損壞
MSN/ASN	已寫/未寫	√	√				未寫碼
MOS管	是否可正常控制、開路、短路，是否有輸出短路保護功能	√	√				MOS管開路、短路、非原裝MOS管，金手指開路
待機空載電壓	待機電壓是否正常	√	√				MOS管損壞，山寨頭100歐電阻虛焊
待機帶載電壓	待機帶載電壓是否正常	√	√				MOS管損壞，關(guān)不死
待機限流	待機時給3.5V電池充電電流	√	√				MOS管損壞，關(guān)不死
短路電流	待機時輸出端短路電流	√	√				MOS管損壞
CC線	快充線CC線是否連通		√			√	CC線開路，虛焊
CC電阻	CC線上的Rd，Rp連接方式、電阻阻值		√		√		插頭不良
E-Marker	讀碼					√	芯片、CC線、插頭腳開短路
IC方案	檢測蘋果頭中所用的芯片方案	Lightning	Lightning	OPPO芯片方案	OPPO芯片方案		芯片方案不對
搖擺測試	檢查線材搖擺瞬間有無開短路等	√	√	√	√	√	虛焊